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用于测量超材料和电阻膜的表面阻抗,以及用于半导体晶片的电导率的非接触式测量;可以测量的薄膜材料范围包括电阻层、金属薄膜和导电聚合物薄膜。

对块状低损耗圆盘或圆柱状介电陶瓷进行非常精确的复介电常数测量。

具有高斯镜、用于自动宽带和20-50 GHz(或20-110 GHz)频率范围内低损耗电介质平板样品电磁特性的精确室温谐振测量系统。

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