航空航天

材料介电特性测试系统

积社科技作为材料测量领域里拥有近十年经验的专业服务商,致力于材料测量专业设备研发、销售、技术服务及系统集成。

公司涉及材料工程、光电工程、航空航天、岩土安全、能源工程、海洋工程、生物医学等领域,并提供先进的高性价比技术产品、解决方案及技术服务。

积社科技作为波兰QWED产品在中国区的官方授权代理和合作伙伴,致力于为客户提供更专业的电磁仿真CAE、测试测量产品和一流的技术服务。

介电材料的完整测量装置系统,包括测量谐振腔夹具和经济高效的微波Q-Meter以及USB VNA。几种类型的谐振腔体,可用于精确测量微波频率下材料的电磁性能。

>具有高斯镜的新型Fabry-Perot开放式谐振腔体,用于自动带款和高达330GHz频率范围内低损耗电介质片的电磁特性的精确谐振测量。

>使用便携式2D扫描仪对材料样品进行高效成像,该扫描仪集成了SPDR电介质谐振腔,并由低尺寸因数网络分析仪驱动。​

>可用于10 GHz 、20 GHz、28 GHz、40 GHz、…至80 GHz低损材料的介电特性表征,亦可用于变温测量。

用于在1GHz 、2.5GHz、5 GHz、10GHz、15GHz下测量层状或片状介电材料的复介电常数,包括LTCC衬底以及沉积在低损耗介电衬底上的薄膜。

用于测量超材料和电阻膜的表面阻抗,以及用于半导体晶片的电导率的非接触式测量;可以测量的薄膜材料范围包括电阻层、金属薄膜和导电聚合物薄膜。

对块状低损耗圆盘或圆柱状介电陶瓷进行非常精确的复介电常数测量。

具有高斯镜、用于自动宽带和高达330GHz频率范围内(多频段可选)低损耗电介质平板样品电磁特性的精确室温谐振测量系统。

高性价比的Microwave Q-Meter可使用专用SPDR和SiPDR谐振器进行快速和自动测量。专用、友好和高度可配置的应用程序通过计算机控制整个测量过程,且易于管理测量结果。

用于材料介电特性2D成像的SPDR扫描仪:集成SPDR电介质谐振腔体,并由低尺寸因数网络分析仪驱动对材料样品介电特性进行高效成像。

可用于10 GHz 、20 GHz、28 GHz、40 GHz、…至80 GHz低损材料的介电特性表征,亦可用于变温测量。

材料介电特性变温测试系统采用不同频率下的谐振腔对变温情况下自动测量材料的介电特性参数,具有高度集成化,可对参数的手动、自动化测试。

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