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QWED 介电材料测量装置
介电材料的完整测量装置系统，包括测量夹具（谐振器）和经济高效的微波Q-Meter。几种类型的谐振器，可用于精确测量微波频率下材料的电磁性能。
>具有高斯镜的新型Fabry-Perot开放式谐振器（FPOR），用于自动带款和在20-110GHz频率范围内低损耗电介质片的电磁特性的精确谐振测量。
>使用便携式2D扫描仪对材料样品进行高效成像，该扫描仪集成了10GHz SPDR电介质谐振器，并由低尺寸因数网络分析仪驱动。
>Microwave Q-Meter一种经济型的计算机控制微波振荡器系统，可通过专用SPDR和SiPDR进行快速和自动的测量。
用于测量层状介电材料的复介电常数，包括LTCC衬底以及沉积在低损耗介电衬底上的铁电薄膜；还可用于测量各种导电材料（如商用电阻层，导电聚合物薄膜或高电阻率半导体）的表面电阻和电导率。
高性价比的Microwave Q-Meter可使用专用SPDR和SiPDR谐振器进行快速和自动测量。专用、友好和高度可配置的应用程序通过计算机控制整个测量过程，且易于管理测量结果。