介电材料的完整测量装置系统,包括测量谐振腔夹具和经济高效的微波Q-Meter以及USB VNA。几种类型的谐振腔体,可用于精确测量微波频率下材料的电磁性能。
>具有高斯镜的新型Fabry-Perot开放式谐振腔体,用于自动带款和高达330GHz频率范围内低损耗电介质片的电磁特性的精确谐振测量。
>使用便携式2D扫描仪对材料样品进行高效成像,该扫描仪集成了SPDR电介质谐振腔,并由低尺寸因数网络分析仪驱动。
>可用于10 GHz 、20 GHz、28 GHz、40 GHz、…至80 GHz低损材料的介电特性表征,亦可用于变温测量。