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QWED 介电材料测量装置
用于测量层状介电材料的复介电常数，包括LTCC衬底以及沉积在低损耗介电衬底上的铁电薄膜；还可用于测量各种导电材料（如商用电阻层，导电聚合物薄膜或高电阻率半导体）的表面电阻和电导率。
用于测量层状介电材料的复介电常数，包括LTCC衬底以及沉积在低损耗介电衬底上的铁电薄膜；还可用于测量各种导电材料（如商用电阻层，导电聚合物薄膜或高电阻率半导体）的表面电阻和电导率。