SPDR 材料介电特性2D成像扫描仪

积社科技作为波兰QWED产品在中国区的官方合作伙伴，致力于为客户提供更专业的电磁仿真CAE、测试测量产品和一流的技术服务。

测量装置包括一个10GHz SPDR、一台用于样品放置的电动工作台及一台可用于快速准确地提取 Q 因子的便携手持 Q-Meter 设备（可取代昂贵且笨重的VNA）。整个测量设置和过程通过笔记本电脑应用程序方便地控制，系统具有稳定、便携和经济型（低成本）等优势。系统的两个主要构件： SPDR 扫描仪和 Q-Meter ，均已参考商用的SPDR 和全尺寸、全功能实验室 VNA 进行过验证，并证明测量精度在 IEC 规范定义的范围内。

在 SPDR 方法中，我们测量在 SPDR 腔的水平截面上平均的材料参数，包括高介电常数介电谐振器及其邻近区域。由 SPDR 插槽中的电能分布密度加权平均。例如，在 10GHz SPDR 的情况下，当谐振腔的中心位于点 x0,y0 处时，被测材料的每个点放置的距离小于约 10 mm 都会以某种方式对测量结果做出贡献（位于距 x0,y0 点约 3-5 mm的点贡献最大）。当需要测量非均匀平面材料时，必须考虑该属性。下图显示了 QWED 使用 10GHz SPDR 的层状材料二维扫描仪。在以规则的空间间隔扫描材料参数并应用特殊的信号处理技术后，可以获得比直接从测量中获得的分辨率更高的介电常数或损耗角正切图。