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微波介电特性材料测量系统-TE模式谐振腔
积社科技作为日本AET在中国区的官方代理商及深度绑定的合作伙伴，致力于为客户提供更专业的电磁测量产品和一流的技术服务。
介电特性是设计无线和高速数字器件的重要参数。为了满足日益增长的快速和精确测量的需求，日本AET微波介电特性材料测量系统提供了一种高度精确的介电测量系统，能够以合理的成本轻松、精确地测量各种样品。
根据不同的测试方法或者不同的测试范围或者不同的被测材料，选择合适的测试工具。
TE模式谐振腔
该测量方法专注于薄膜测量。该谐振器也称为“分柱体”谐振腔SCR，即将片状样品插入谐振器之间的间隙。该方法支持高达40GHz的频率，因此满足了5G（第五代移动通信系统）的需求。TE模式谐振腔具有固定间隙用于插入测量样品，从而在相较其他产品时实现更好的测量稳定性。 它可以测量各种材料，如软样品和脆样品。
该方法具有高损耗分辨率，适合低损耗胶片测量。介电常数的测量方向为平面内。
积社科技-TE模式谐振腔系列
频率范围：10GHz – 40GHz
频率点：每个谐振器1个频率点
测量范围εr（Dk）：1 – 5 ，tanδ（Df）：0.01 – 0.0001
测量精度εr（Dk）：±1% tanδ（Df）：±5%
样品形状：薄片（厚度小于0.3毫米）
标准：JIS R1641 IPC-TM650 2.5.5.13 IEC 62562
