航空航天

QWED 介电材料测量装置

QWED SPDR分离柱电介质谐振器

用于测量层状介电材料的复介电常数,包括LTCC衬底以及沉积在低损耗介电衬底上的铁电薄膜;还可用于测量各种导电材料(如商用电阻层,导电聚合物薄膜或高电阻率半导体)的表面电阻和电导率。

QWED SiPDR单柱介电谐振器

用于测量超材料和电阻膜的表面阻抗,以及用于半导体晶片的电导率的非接触式测量;可以测量的薄膜材料范围包括电阻层、金属薄膜和导电聚合物薄膜。

QWED 石墨烯测量谐振器

专门用于测量微波频率(约13 GHz)下沉积在10 mm x 10 mm小型电介质基板上的石墨烯电性能的谐振器

QWED TE01δ模式介电谐振器

对块状低损耗圆盘或圆柱状介电陶瓷进行非常精确的复介电常数测量。