航空航天

QWED 介电材料测量装置

用于测量层状介电材料的复介电常数,包括LTCC衬底以及沉积在低损耗介电衬底上的铁电薄膜;还可用于测量各种导电材料(如商用电阻层,导电聚合物薄膜或高电阻率半导体)的表面电阻和电导率。

用于测量超材料和电阻膜的表面阻抗,以及用于半导体晶片的电导率的非接触式测量;可以测量的薄膜材料范围包括电阻层、金属薄膜和导电聚合物薄膜。

对块状低损耗圆盘或圆柱状介电陶瓷进行非常精确的复介电常数测量。

具有高斯镜、用于自动宽带和20-50 GHz(或20-110 GHz)频率范围内低损耗电介质平板样品电磁特性的精确室温谐振测量系统。

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