航空航天

QWED 介电材料测量装置

介电材料的完整测量装置系统,包括测量夹具(谐振器)和经济高效的微波Q-Meter。几种类型的谐振器,可用于精确测量微波频率下材料的电磁性能。

>具有高斯镜的新型Fabry-Perot开放式谐振器(FPOR),用于自动带款和在20-110GHz频率范围内低损耗电介质片的电磁特性的精确谐振测量。

>使用便携式2D扫描仪对材料样品进行高效成像,该扫描仪集成了10GHz SPDR电介质谐振器,并由低尺寸因数网络分析仪驱动。​

>Microwave Q-Meter一种经济型的计算机控制微波振荡器系统,可通过专用SPDR和SiPDR进行快速和自动的测量。

用于测量层状介电材料的复介电常数,包括LTCC衬底以及沉积在低损耗介电衬底上的铁电薄膜;还可用于测量各种导电材料(如商用电阻层,导电聚合物薄膜或高电阻率半导体)的表面电阻和电导率。

用于测量超材料和电阻膜的表面阻抗,以及用于半导体晶片的电导率的非接触式测量;可以测量的薄膜材料范围包括电阻层、金属薄膜和导电聚合物薄膜。

对块状低损耗圆盘或圆柱状介电陶瓷进行非常精确的复介电常数测量。

具有高斯镜、用于自动宽带和20-50 GHz(或20-110 GHz)频率范围内低损耗电介质平板样品电磁特性的精确室温谐振测量系统。

高性价比的Microwave Q-Meter可使用专用SPDR和SiPDR谐振器进行快速和自动测量。专用、友好和高度可配置的应用程序通过计算机控制整个测量过程,且易于管理测量结果。

用于材料成像的2D SPDR扫描仪:集成10GHz SPDR电介质谐振器,并由低尺寸因数网络分析仪驱动对材料样品进行高效成像。

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