航空航天

QWED SPDR分离柱电介质谐振器(Split Post Dielectric Resonators)

QWED SPDR实物图(仅供参考)

QWED SPDR的横截面示意图

QWED SPDR分离柱电介质谐振器参数

1、应用

QWED SPDR用于测量层状介电材料的复介电常数,包括LTCC衬底以及沉积在低损耗介电衬底上的铁电薄膜;还可用于测量各种导电材料(如商用电阻层,导电聚合物薄膜或高电阻率半导体)的表面电阻和电导率。这种测量仅适用于Rs> 5kΩ/平方的大型表面电阻样品。

2、厚度为h的样品的测量精度

Δε/ε=±(0.0015 + Δh/h)  
Δtanδ=±2*10-5 或  ±0.03*tanδ 

3、工作频率范围

QWED SPDR使用特定谐振模式。此模式具有特定的谐振频率,具体取决于谐振器的尺寸,但在某种程度上还取决于被测样品的电特性。因此,每个设计的谐振器都只能用于特定的标称频率,并且实际测量是在接近标称频率的频率上进行的。
QWED SPDR基本的标称频率为:1.1 GHz,1.9 GHz,2.45 GHz,5 GHz,10 GHz和15 GHz。可以根据特殊要求制造其他频率在1.1至15 GHz之间的谐振器。

4、工作温度范围

-2700C 至 1100C

5、测量所需的其他设备

微波频率Q表或矢量网络分析仪

6、测量步骤

可测量空谐振器和带有研究样本的谐振器的谐振频率和Q因子。提供了专用软件来确定介电常数和介电损耗正切。配备安捷伦科技的PNA / ENA系列网络分析仪(带有Option 300的85071E材料测量软件)的用户,只需将QWED专用应用程序上载到网络分析仪中,并直接在其显示屏上获得最终结果。
使用不同网络分析仪的用户需要在标准PC计算机或网络分析仪(如果装有Windows®操作系统)上安装用于介电特性计算的软件。

7、其他

样本的最小大小取决于谐振器的工作频率。以下给出了谐振器最常用工作频率对应的最小样本尺寸。

根据工作频率确定的最小样本尺寸

  标称频率 [GHz]    样品的最小尺寸/直径 [mm]    样品的推荐尺寸 [mm]    样品的最大宽度 [mm]    样品的最大厚度 [mm]  
1.1120×120 / 120130×1801506.0
1.970×70 / 7070×1001004.1
2.45 / 2.555×55 / 5570×801003.1
5 / 5.130×30 / 3040×50901.95
1022×22 / 2230×50900.95
1514×14 / 1420×30400.6